Strumentazione
Diffrattometro a quattro cerchi Gemini R-Ultra per cristallo singolo e polveri cristalline
Sorgente Mo e Cu. Misure tra 90-400 K e ad alta pressione.
Responsabile: Dr. Domenica Marabello (domenica.marabello@unito.it, Tel. 0116707505)
https://crisdi.unito.it/it/strumentazione/laboratorio-cristallo-singolo
Diffrattometro Bragg-Brentano Panalytical PW3020 theta-2theta
Sorgente Cu (possibilmente anche Co e Mo) Tecniche: X-Ray Reflectometry, Grazing incident X-Ray Diffraction, BB X-Ray Diffraction.
Responsabile: Prof. Baricco (marcello.baricco@unito.it)
https://sites.google.com/unito.it/momo-metallurgygroup-unito/home-page
Diffrattometro Bragg-Brentano Panalytical Xpert Pro MPD theta-theta
Sorgente Cu. Tecniche: Non ambient Temperature measurement up to 900°C and 10 bar, Texture analysis, BB X-Ray Diffraction
Responsabile: Prof. Baricco (marcello.baricco@unito.it)
https://sites.google.com/unito.it/momo-metallurgygroup-unito/home-page
Diffrattometro Bragg-Brentano Panalytical Xpert Pro MPD theta-theta
Sorgente Cu. Tecniche: Misure in capillare, Spinner flat, BB X-Ray Diffraction anche con portacampione rotante.
Responsabile: Prof. Baricco (marcello.baricco@unito.it)
https://sites.google.com/unito.it/momo-metallurgygroup-unito/home-page
JEOL JSM IT300LV (High Vacuum – Low Vacuum 10/650 Pa - 0.3-30kV) Scanning Electron Microscope
dotato di microanalisi EDS Oxford INCA Energy 200 con detector INCA X-act SDD thin window
Responsabile: Emanuele Costa (emanuele.costa@unito.it)